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    设备详细介绍

    双面对准接触式紫外光刻机

    Double Sided Mask Aligner System

    发布时间:2013-01-16 | 【打印】 【关闭】
     

      型   号:MA6

      功     能:

    • 可用于标准光刻
      Standard lithography applications
    • 可用于Ⅲ-Ⅴ族易碎化合物、不规则碎片、透明基片的光刻
      Applicable to fragile III-V compounds, thinned or warped wafers, transparent substrates, as well as pieces

     

      主要指标:

    • 曝光波长(Wavelength):UV 400
    • 曝光面积(Effective exposure size):100 mm(4-inch)
    • 分辨率(Resolution):≤0.8 µm
    • 正面套刻精度(Top side alignment accuracy):≤ ±0.5 µm
    • 背面套刻精度(Bottom side alignment accuracy):≤ ±0.5 µm
    • 光强均匀度(Intensity Uniformity):≤±5for 100 mm wafers
    • 曝光模式 (Printing modes):接近、硬接触、软接触和真空4种模式 (proximity,hard, soft and vacuum contact modes)
    • 曝光时间(Exposure duration):0 ~ 999.9 s

      技术特点:

    • 双面对准,双面加工
      Double sided mask alignment, and pattern printing on both sides of the substrate
    • 具有衍射减小光学系统,并可键合对准升级
      Diffraction reducing exposure optics and a bond aligning option

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